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分类名称: NB/T 47013-2015
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CSK-IA试块  
CSK-IA试块
CSK-IA试块是由IIW试块的基础上改进而来的 主要用途有:1利用R100mm曲面测定斜探头的 入射点和前沿长度;2利用50和1.5mm圆孔测定 斜探头的折射角;3利用试块直角棱边测定斜探头 声束轴线的偏离情况;4利用25mm厚度测定探伤 仪水平线性、垂直线性和动态范围;5利用25mm 厚度调整纵波探测范围和扫描速度;6利用R50和 R100mm曲面调节横波探测范围和扫描速度;7利 用50、44和40mm 三个台阶孔测定斜探头分辨力.
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CSK-IIA  
CSK-IIA
分三个型号:CSK-IIA-1、CSK-IIA-2、CSK-IIA-3,是依据承压设备I型焊接接头超声检测要求而设计,适用于将斜探头、直探头检测工件厚度范围为6mm-200mm的I型焊接接头
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GS试块  
GS试块
GS试块依据承压设备Ⅱ型焊接接头超声检测要求而设计,适用于将斜探头检测工件厚度范围为4mm~50mm的Ⅱ型焊接接头。
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